CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishThis paper uses a de-embedding procedure, based on measured and numerically computed S-parameters, to obtain the characterization of portions of a structure difficult to obtain by direct measurements. The results are validated by measurements and independent calculations.
| Titolo: | De-embedding procedure based on computed/measured data set for PCB structures characterization | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2004 | |
| Rivista: | ||
| Abstract: | This paper uses a de-embedding procedure, based on measured and numerically computed S-parameters, to obtain the characterization of portions of a structure difficult to obtain by direct measurements. The results are validated by measurements and independent calculations. | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11697/10908 | |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11697/10908
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