Origin, symmetry, and temperature dependence of the perturbation induced by Si extrinsic defects on the Sn/Si(111)alpha surface: A scanning tunnelling microscope study / Ottaviano, L.; Crivellari, M.; Profeta, Gianni; Continenza, Alessandra; Lozzi, L.; Santucci, S.. - In: JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY. A. VACUUM, SURFACES, AND FILMS. - ISSN 0734-2101. - 18(2000), pp. 1946-1949.
Titolo: | Origin, symmetry, and temperature dependence of the perturbation induced by Si extrinsic defects on the Sn/Si(111)alpha surface: A scanning tunnelling microscope study |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2000 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11697/14867 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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