Defect induced perturbation on the Sn/Si(111) $alpha$--surface:
a voltage dependent STM study

Ottaviano, L.; Profeta, G.; Continenza, A; Santucci, S.; Freeman, A.J.; Modesti, S.

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Defect induced perturbation on the Sn/Si(111) $alpha$--surface: a voltage dependent STM study / OTTAVIANO L.; PROFETA G.; CONTINENZA A; SANTUCCI S.; FREEMAN A.J.; MODESTI S.. - In: SURFACE SCIENCE. - ISSN 0039-6028. - 464(2000), pp. 57-67.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11697/14868

Titolo:	Defect induced perturbation on the Sn/Si(111) $alpha$--surface: a voltage dependent STM study
Autori interni:	CONTINENZA, Alessandra PROFETA, Gianni
Data di pubblicazione:	2000
Rivista:	SURFACE SCIENCE
Handle:	http://hdl.handle.net/11697/14868
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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