Measurement of the distribution of ^207Bi depositions on calibration sources for SuperNEMO

Arnold, R.;Augier, C.;Barabash, A. S.;Basharina-Freshville, A.;Birdsall, E.;Blondel, S.;Bongrand, M.;Boursette, D.;Breier, R.;Brudanin, V.;Busto, J.;Calvez, S.;Cerna, C.;Cesar, J. P.;Ceschia, M.;Chapon, A.;Chauveau, E.;Chopra, A.;Dawson, L.;De Capua, S.;Duchesneau, D.;Durand, D.;Eurin, G.;Evans, J. J.;Filosofov, D.;Flack, R.;Franchini, P.;Girard-Carillo, C.;Gómez, H.;Guillon, B.;Guzowski, P.;Hoballah, M.;Hodák, R.;Hussain, M. H.;Jeremie, A.;Jullian, S.;Kaizer, J.;Klimenko, A.;Kochetov, O.;Konovalov, S. I.;Kovalenko, V.;Lalanne, D.;Lang, K.;Lemière, Y.;Le Noblet, T.;Liptak, Z.;Liu, X. R.;Loaiza, P.;Macko, M.;Macolino, C.;Marquet, C.;Mauger, F.;Minotti, A.;Mora, Y.;Morgan, B.;Mott, J.;Nemchenok, I.;Nomachi, M.;Nova, F.;Nowacki, F.;Ohsumi, H.;Oliviéro, G.;Pahlka, R. B.;Palušová, V.;Patrick, C.;Perrot, F.;Pin, A.;Piquemal, F.;Povinec, P.;Proga, M.;Quinn, W. S.;Ramachers, Y. A.;Remoto, A.;Reyss, J. L.;Saakyan, R.;Salamatin, A.;Salazar, R.;Sarazin, X.;Sedgbeer, J.;Shitov, Yu.;Simard, L.;Šimkovic, F.;Smolnikov, A.;Söldner-Rembold, S.;Štekl, I.;Suhonen, J.;Sutton, C. S.;Szklarz, G.;Tedjditi, H.;Thomas, J.;Timkin, V.;Torre, S.;Tretyak, Vl. I.;Tretyak, V. I.;Umatov, V. I.;Vilela, C.;Vorobel, V.;Waters, D.;Xie, F.;Žemlička, J.

2021-01-01