Fast Calculation of Dielectric Substrate Losses in Microwave Applications by the FD2TD Method using a New Formalism

BUCCELLA, CONCETTINA;DE SANTIS, VALERIO;FELIZIANI, MAURO;
2010-01-01

978-1-4244-6305-3
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11697/29781
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 5
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? 1
social impact