XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature

Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P.

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XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature / Santucci S.; DiNardo S.; Lozzi L.; Passacantando M; Picozzi P.. - In: MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS. - ISSN 0272-9172. - 382(1995), pp. 413-418.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11697/298

Titolo:	XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature
Autori:	Santucci S. DiNardo S. Lozzi L. PASSACANTANDO, MAURIZIO Picozzi P. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1995
Rivista:	MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS
Handle:	http://hdl.handle.net/11697/298
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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