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We report the observation and characterization of field emission current from individual single- and few-layer graphene flakes laid on a flat SiO(2)/Si substrate. Measurements were performed in a scanning electron microscope chamber equipped with nanoprobes which allowed local measurement of the field emission current. We achieved field emission currents up to 1 mu A from the flat part of graphene flakes at applied fields of few hundred volt per micrometer. We found that the emission process is stable over a period of several hours and that it is well described by a Fowler-Nordheim model for currents over five orders of magnitude. (C) 2011 American Institute of Physics. [doi:10.1063/1.3579533]
Field emission from single and few-layer graphene flakes
Santandrea S;Giubileo F;Grossi V;Santucci S;PASSACANTANDO, MAURIZIO;Schroeder T;Lupina G;Di Bartolomeo A.
2011
Abstract
We report the observation and characterization of field emission current from individual single- and few-layer graphene flakes laid on a flat SiO(2)/Si substrate. Measurements were performed in a scanning electron microscope chamber equipped with nanoprobes which allowed local measurement of the field emission current. We achieved field emission currents up to 1 mu A from the flat part of graphene flakes at applied fields of few hundred volt per micrometer. We found that the emission process is stable over a period of several hours and that it is well described by a Fowler-Nordheim model for currents over five orders of magnitude. (C) 2011 American Institute of Physics. [doi:10.1063/1.3579533]
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Citazioni
ND
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simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla propria produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2021-2023 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione. La simulazione si basa sui dati IRIS e sugli indicatori bibliometrici alla data indicata e non tiene conto di eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori. La simulazione può differire dall'esito di un’eventuale domanda ASN sia per errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS, sia per la variabilità dei dati bibliometrici nel tempo. Si consideri che Anvur calcola i valori degli indicatori all'ultima data utile per la presentazione delle domande.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle specifiche raccolte sul tavolo ER del Focus Group IRIS coordinato dall’Università di Modena e Reggio Emilia e delle regole riportate nel DM 589/2018 e allegata Tabella A. Cineca, l’Università di Modena e Reggio Emilia e il Focus Group IRIS non si assumono alcuna responsabilità in merito all’uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione. Si specifica inoltre che la simulazione contiene calcoli effettuati con dati e algoritmi di pubblico dominio e deve quindi essere considerata come un mero ausilio al calcolo svolgibile manualmente o con strumenti equivalenti.