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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
XPS, AES AND EELS STUDIES OF CR CLUSTERS ON GRAPHITE 1-gen-1993 Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro; Decrescenzi, M.
XPS, LEED and AFM investigation of the Si(100) surface after the deposition and annealing of tellurium thin films 1-gen-1996 Santucci, Sandro; Dinardo, S; Lozzi, L; Passacantando, M; Picozzi, P.
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Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 242
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 241
  • 1 Contributo su Rivista::1.5 Abst... 1
Autore
  • LOZZI, LUCA 109
  • PASSACANTANDO, MAURIZIO 91
  • OTTAVIANO, LUCA 60
  • CANTALINI, CARLO 18
  • PROFETA, GIANNI 10
  • RUGGIERI, FABRIZIO 8
  • BISTI, FEDERICO 7
  • CONTINENZA, ALESSANDRA 6
  • NARDONE, MICHELE 6
  • CIMINI, ANNA MARIA 4
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2018 37
  • 2000 - 2009 125
  • 1990 - 1999 51
  • 1980 - 1989 24
  • 1973 - 1979 5
Rivista
  • SURFACE SCIENCE 26
  • THIN SOLID FILMS 22
  • JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS 12
  • JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 12
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 7
  • PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER 7
  • APPLIED SURFACE SCIENCE 6
  • DIAMOND AND RELATED MATERIALS 6
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 6
  • JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 6
Keyword
  • Graphene Oxide 3
  • Multiwall carbon nanotubes 3
  • Photodetector 3
  • Atomic force microscopy 2
  • Condensed Matter Physics 2
  • EUV 2
  • Heterojunction 2
  • Instrumentation 2
  • Materials Science (all) 2
  • nanofibers 2
Lingua
  • eng 170
Accesso al fulltext
  • no fulltext 236
  • open 3
  • reserved 2
  • restricted 1