IRIS

Sfoglia per Afferenza Dipartimento di Scienze fisiche e chimiche

Opzioni
Vai a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
Mostrati risultati da 6.377 a 6.396 di 6.417
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
X-ray Photoemission Spettroscopy and Scanning tunneling Spectroscopy study of the thermal stability of WO3 thin films 1-gen-2000 Santucci, S; Cantalini, Carlo; Crivellari, M; Lozzi, Luca; Ottaviano, Luca; Passacantando, Maurizio
X-ray reflectivity studies of very thin films of silicon oxide and silicon oxide-silicon nitride stacked structures 1-gen-2001 Santucci, S; la Cecilia, Av; Digiacomo, A; Phani, Ra; Lozzi, Luca
X-Ray, Electrolytic Conductance and Dielectric Studies of Bile Salt Micellar Aggregates 1-gen-2000 Bonincontro, A.; D'Archivio, ANGELO ANTONIO; Galantini, L.; Giglio, E.; Punzo, F.
X-Ray, QELS, and CD Studies of the Micellar Aggregates of Calcium Taurodeoxycholate 1-gen-1997 D'Archivio, ANGELO ANTONIO; L., Galantini; E., Giglio
XAS and XRD analysis of active Pt and Pd sites in metal–organic framework UiO-67 1-gen-2021 Skorynina, Alina; Bugaev, Aram; Lomachenko, Kirill; Guda, Alexander; Lazzarini, Andrea; Olsbye, Unni; Petter Lillerud, Karl; Soldatov, Alexander
XAS in Liquid Systems 1-gen-2015 Filipponi, Adriano; D'Angelo, Paola
Xas investigation of three-body correlations in liquid Hg 1-gen-1993 Ottaviano, L; Filipponi, Adriano; Dicicco, A; Santucci, Sandro; Picozzi, P.
XENON100 dark matter results from a combination of 477 live days 1-gen-2016 Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Amaro, F. D.; Anthony, M.; Arneodo, F.; Barrow, P.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Butikofer, L.; Calven, J.; Cardoso, J. M. R.; Cervantes, M.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Duchovni, E.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Franco, D.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Geis, C.; Goetzke, L. W.; Greene, Z.; Grignon, C.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Itay, R.; Kaminsky, B.; Kessler, G.; Kish, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Le Calloch, M.; Levy, C.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lopes, J. A. M.; Manfredini, A.; Marrodan Undagoitia, T.; Masbou, J.; Massoli, F. V.; Masson, D.; Mayani, D.; Meng, Y.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miguez, B.; Molinario, A.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Orrigo, S. E. A.; Pakarha, P.; Pelssers, B.; Persiani, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Piro, M. -C.; Plante, G.; Priel, N.; Rauch, L.; Reichard, S.; Reuter, C.; Rizzo, A.; Rosendahl, S.; Rupp, N.; Dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Silva, M.; Simgen, H.; Sivers, M. V.; Stein, A.; Thers, D.; Tiseni, A.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Wall, R.; Wang, H.; Weber, M.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wulf, J.; Zhang, Y.
XENON1T dark matter data analysis: Signal and background models and statistical inference 1-gen-2019 Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Arneodo, F.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Lopez Fune, E.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Marrodan Undagoitia, T.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Mora, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Pelssers, B.; Peres, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qiu, H.; Ramirez Garcia, D.; Reichard, S.; Riedel, B.; Rizzo, A.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Sarcevic, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Upole, N.; Vargas, M.; Wack, O.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
XENON1T dark matter data analysis: Signal reconstruction, calibration, and event selection 1-gen-2019 Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Arneodo, F.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; De Perio, P.; Di Gangi, P.; Di Giovanni, A.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gallo Rosso, A.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Lopez Fune, E.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Marrodan Undagoitia, T.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Mora, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Pelssers, B.; Peres, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qiu, H.; Ramirez Garcia, D.; Reichard, S.; Riedel, B.; Rizzo, A.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Sarcevic, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Scotto Lavina, L.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Upole, N.; Vargas, M.; Wack, O.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.
The XENON1T dark matter experiment 1-gen-2017 Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Amaro, F. D.; Anthony, M.; Antunes, B.; Arneodo, F.; Balata, M.; Barrow, P.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breskin, A.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Butikofer, L.; Calven, J.; Cardoso, J. M. R.; Cervantes, M.; Chiarini, A.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Corrieri, R.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; de Perio, P.; Gangi, P. D.; Giovanni, A. D.; Diglio, S.; Disdier, J. -M.; Doets, M.; Duchovni, E.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Franco, D.; Front, D.; Fulgione, W.; Rosso, A. G.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Geis, C.; Giboni, K. -L.; Goetzke, L. W.; Grandi, L.; Greene, Z.; Grignon, C.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Huhmann, C.; Itay, R.; James, A.; Kaminsky, B.; Kazama, S.; Kessler, G.; Kish, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Lellouch, D.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Maier, R.; Manfredini, A.; Maris, I.; Undagoitia, T. M.; Masbou, J.; Massoli, F. V.; Masson, D.; Mayani, D.; Messina, M.; Micheneau, K.; Molinario, A.; Mora, K.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Orlandi, D.; Othegraven, R.; Pakarha, P.; Parlati, S.; Pelssers, B.; Persiani, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Piro, M. -C.; Plante, G.; Priel, N.; Garcia, D. R.; Rauch, L.; Reichard, S.; Reuter, C.; Rizzo, A.; Rosendahl, S.; Rupp, N.; Santos, J. M. F.; Saldanha, R.; Sartorelli, G.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schumann, M.; Lavina, L. S.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Sivers, M.; Stern, M.; Stein, A.; Tatananni, D.; Tatananni, L.; Thers, D.; Tiseni, A.; Trinchero, G.; Tunnell, C.; Upole, N.; Vargas, M.; Wack, O.; Walet, R.; Wang, H.; Wang, Z.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.
The XENON1T data acquisition system 1-gen-2019 Aprile, E.; Aalbers, J.; Agostini, F.; Alfonsi, M.; Althueser, L.; Amaro, F. D.; Antochi, V. C.; Arneodo, F.; Barge, D.; Baudis, L.; Bauermeister, B.; Bellagamba, L.; Benabderrahmane, M. L.; Berger, T.; Breur, P. A.; Brown, A.; Brown, E.; Bruenner, S.; Bruno, G.; Budnik, R.; Butikofer, L.; Capelli, C.; Cardoso, J. M. R.; Cichon, D.; Coderre, D.; Colijn, A. P.; Conrad, J.; Cussonneau, J. P.; Decowski, M. P.; De Perio, P.; Gangi, P. D.; Giovanni, A. D.; Diglio, S.; Elykov, A.; Eurin, G.; Fei, J.; Ferella, A. D.; Fieguth, A.; Fulgione, W.; Gaemers, P.; Rosso, A. G.; Galloway, M.; Gao, F.; Garbini, M.; Grandi, L.; Greene, Z.; Hasterok, C.; Hogenbirk, E.; Howlett, J.; Iacovacci, M.; Itay, R.; Joerg, F.; Kazama, S.; Kish, A.; Kobayashi, M.; Koltman, G.; Kopec, A.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Levinson, L.; Lin, Q.; Lindemann, S.; Lindner, M.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Fune, E. L.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Manfredini, A.; Marignetti, F.; Undagoitia, T. M.; Masbou, J.; Masson, D.; Mastroianni, S.; Messina, M.; Micheneau, K.; Miller, K.; Molinario, A.; Mora, K.; Mosbacher, Y.; Murra, M.; Naganoma, J.; Ni, K.; Oberlack, U.; Odgers, K.; Pelssers, B.; Peres, R.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Pizzella, V.; Plante, G.; Podviianiuk, R.; Qiu, H.; Garcia, D. R.; Reichard, S.; Riedel, B.; Rocchetti, A.; Rupp, N.; Santos, J. M. F. D.; Sartorelli, G.; Sarcevic, N.; Scheibelhut, M.; Schindler, S.; Schreiner, J.; Schulte, D.; Schumann, M.; Lavina, L. S.; Selvi, M.; Shagin, P.; Shockley, E.; Silva, M.; Simgen, H.; Therreau, C.; Thers, D.; Toschi, F.; Trinchero, G.; Tunnell, C. D.; Upole, N.; Vargas, M.; Volta, G.; Wack, O.; Wang, H.; Wei, Y.; Weinheimer, C.; Wenz, D.; Wittweg, C.; Wulf, J.; Ye, J.; Zhang, Y.; Zhu, T.; Zopounidis, J. P.; Collaboration, F. T. X.; Pieracci, M.; Tintori, C.
XPS analysis on SiO2 sol-gel thin films 1-gen-1995 Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P.
XPS and SEM studies of oxide reduction of germanium nanowires 1-gen-2010 Grossi, V; Ottaviano, Luca; Santucci, Sandro; Passacantando, Maurizio
XPS depth profiling studies of L-CVD SnO2 thin films 1-gen-2006 Kwoka, M; Ottaviano, Luca; Passacantando, Maurizio; Santucci, Sandro; Szuber, J.
XPS STUDIES ON SIOX THIN-FILMS 1-gen-1993 Alfonsetti, R; Lozzi, L; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro
XPS STUDIES ON SIOX THIN-FILMS 1-gen-1993 Alfonsetti, R; Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, S.
XPS study of air exposed copper phthalocyanine ultra-thin films deposited on Si(111) native substrates 1-gen-2008 Krzywiecki, M; Grzadziel, L; Ottaviano, L; Parisse, P; Santucci, Sandro; Szuber, J.
XPS study of graphene oxide reduction induced by (100) and (111)-oriented Si substrates 1-gen-2018 Priante, Fabio; Salim, Maan; Ottaviano, L.; Perrozzi, F.
XPS study of the FCuPc/SiO2 interface 1-gen-2003 Lozzi, Luca; Santucci, S.
Mostrati risultati da 6.377 a 6.396 di 6.417
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile