RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Risultati 251 - 254 di 254 (tempo di esecuzione: 0.03 secondi).
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation
2005-01-01 Kwoka, M; Ottaviano, Luca; Passacantando, Maurizio; Santucci, Sandro; Czempik, G; Szuber, J.
XPS, AES AND EELS STUDIES OF CR CLUSTERS ON GRAPHITE
1993-01-01 Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro; Decrescenzi, M.
XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature
1995-01-01 Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P.
XPS, LEED and AFM investigation of the Si(100) surface after the deposition and annealing of tellurium thin films
1996-01-01 Santucci, Sandro; Dinardo, S; Lozzi, L; Passacantando, M; Picozzi, P.
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
XPS study of the surface chemistry of L-CVD SnO2 thin films after oxidation | 1-gen-2005 | Kwoka, M; Ottaviano, Luca; Passacantando, Maurizio; Santucci, Sandro; Czempik, G; Szuber, J. | |
XPS, AES AND EELS STUDIES OF CR CLUSTERS ON GRAPHITE | 1-gen-1993 | Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro; Decrescenzi, M. | |
XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature | 1-gen-1995 | Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P. | |
XPS, LEED and AFM investigation of the Si(100) surface after the deposition and annealing of tellurium thin films | 1-gen-1996 | Santucci, Sandro; Dinardo, S; Lozzi, L; Passacantando, M; Picozzi, P. |
Risultati 251 - 254 di 254 (tempo di esecuzione: 0.03 secondi).
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 1 Contributo su Rivista 254
- 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 254
Data di pubblicazione
- 2020 - 2024 39
- 2010 - 2019 59
- 2000 - 2009 87
- 1990 - 1999 69
Editore
- Cambridge University Press: 2011 1
- EDP Sciences 1
Rivista
- SURFACE SCIENCE 16
- JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 14
- THIN SOLID FILMS 12
- JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS 11
- APPLIED PHYSICS LETTERS 9
- APPLIED SURFACE SCIENCE 9
- NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 9
- JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY ... 8
- NANOMATERIALS 8
- NANOTECHNOLOGY 8
Keyword
- field emission 9
- Materials Science (all) 7
- Field effect transistor 5
- Photodetector 5
- Field emission 4
- Multiwall carbon nanotubes 4
- Carbon nanotubes 3
- Chemical Engineering (all) 3
- Electrical and Electronic Enginee... 3
- field-effect transistors 3
Lingua
- eng 198
- ger 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 218
- restricted 20
- open 13
- reserved 2
- mixed 1