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2003-01-01 Lozzi, Luca; Santucci, S.

1993-01-01 Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro; Decrescenzi, M.

1995-01-01 Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P.

1996-01-01 Santucci, Sandro; Dinardo, S; Lozzi, L; Passacantando, M; Picozzi, P.

2021-01-01 Paolucci, V.; De Santis, J.; Lozzi, L.; Rigon, M.; Martucci, A.; Cantalini, C.

Titolo	Data di pubblicazione	Autore(i)
XPS study of the FCuPc/SiO2 interface	1-gen-2003	Lozzi, Luca; Santucci, S.
XPS, AES AND EELS STUDIES OF CR CLUSTERS ON GRAPHITE	1-gen-1993	Lozzi, Luca; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P; Santucci, Sandro; Decrescenzi, M.
XPS, AES and leed studies of the interaction between the Si(100) 2x1 surface and cadmium deposited at room temperature	1-gen-1995	Santucci, S.; Dinardo, S.; Lozzi, L.; Passacantando, Maurizio; Picozzi, P.
XPS, LEED and AFM investigation of the Si(100) surface after the deposition and annealing of tellurium thin films	1-gen-1996	Santucci, Sandro; Dinardo, S; Lozzi, L; Passacantando, M; Picozzi, P.
ZnO thin films containing aliovalent ions for NO2 gas sensor activated by visible light	1-gen-2021	Paolucci, V.; De Santis, J.; Lozzi, L.; Rigon, M.; Martucci, A.; Cantalini, C.

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