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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Applications of FSV to EMC and SI data 1-gen-2005 Antonini, Giulio; Scogna, A. C.; Orlandi, Antonio; Ritota, C; Duffy, A.
Band-Gap Limits Prediction for Effective Noise Coupling Reduction in Microwave Circuits Metallic Enclosures 1-gen-2016 Nisanci, Hilmi; de Paulis, Francesco; Orlandi, Antonio
Buried Capacitance Technology for Power Bus Decoupling on High Speed Digital PCB's 1-gen-2001 Antonini, Giulio; Orlandi, Antonio; Ricchiuti, V.
Calculation of Internal Inductance and AC Resistance for Finite Thickness Conductors 1-gen-1996 Antonini, Giulio; Orlandi, Antonio; C. R., Paul
Calculation of Internal Inductance and AC Resistance for Finite Thickness Flat Conductors 1-gen-1996 Antonini, Giulio; Orlandi, Antonio; Paul, C. R.
Calculation of Self and Mutual Inductances Associated with Vias in a DC Power Bus Structure from a Circuit Extraction Approach Based on a Mixed-Potential Integral equation Formulation 1-gen-2001 J., Fan; J. L., Drewniak; J. L., Knighten; N. W., Smith; Orlandi, Antonio
Causality check for SI data validation 1-gen-2005 Antonini, Giulio; Orlandi, Antonio; Ricchiuti, V.
Cavities’ Identification Algorithm for Power Integrity Analysis of Complex Boards 1-gen-2009 Cicerone, Serafino; Orlandi, Antonio; B., Archambeault; S., Connor; J., Fan; J. L., Drewniak
Challenges in developing a multidimensional Feature Selective Validation implementation 1-gen-2010 B., Archambeault; A., Duffy; H., Sasse; X., Kai Li; M., Scase; M., Shafiullah; Orlandi, Antonio
Characterization of dielectric laminates performances for high speed digital boards 1-gen-2003 V., Ricchiuti; Orlandi, Antonio; Antonini, Giulio; A., Ciccomancini
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 235
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 235
Autore
  • ANTONINI, GIULIO 107
  • DE PAULIS, FRANCESCO 52
  • PIERSANTI, STEFANO 9
  • BUCCELLA, CONCETTINA 8
  • OLIVIERI, CARLO 4
  • FELIZIANI, MAURO 3
  • PALANGE, ELIA 3
  • TOGNOLATTI, PIERO 3
  • CECCHETTI, RICCARDO 2
  • PELLEGRINO, ENZA 2
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2019 60
  • 2000 - 2009 122
  • 1990 - 1999 50
  • 1989 - 1989 3
Editore
  • IEEE 50
  • Institute of Electrical and Elect... 5
  • IEEE Computer Society 1
  • The Applied Computational Electro... 1
Rivista
  • EMC EUROPE 1
Serie
  • CONFERENCE RECORD, INDUSTRY APPLI... 1
  • PROGRESS IN ELECTROMAGNETICS RESE... 1
Keyword
  • Electrical and Electronic Enginee... 3
  • Radiation 2
  • Reliability and Quality 2
  • Risk 2
  • Safety 2
  • Aerospace Engineering 1
  • analytical solution 1
  • capacitance extraction 1
  • circuit analysis 1
  • Computational Mathematics 1
Lingua
  • eng 222
  • ita 1
Accesso al fulltext
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